sCLIPS——大大提高高分辨質譜分子式識別能力的革命性軟件
提高高分辨質譜的分子式識別能力
√ 不需標準物，通過線形校正 得到同位素模型
√ 對比理論譜圖，校正后譜圖可達99.9%以上的譜圖準確度
√ 避免了頻繁的質量校正工作
√ 可用于TOF、OrbiTrap、FT-ICR、高分辨四極桿型和扇型磁場等儀器
sCLIPS(自校正線形同位素輪廓搜索)是全新、的質譜校正方法，可以大大提供任何高分辨質譜分子式識別的置信度。即使對于高達1,000,000的強大分辨能力的FT-ICR-MS，雖然可達到次ppm級的質量精度，但對于完全未知物的分子式識別也幾乎是不可能的，特別當離子的質量數大于400 Da時。例如，質量精度為1 ppm，測得離子的質量數為477.2303 Da，對于通常的有機元素組成C、H、N、O、S、Cl、P、F和Na，仍有569種可能的分子式。而利用同位素分布提供的有用附加信息，可以可靠地測量同位素分布的微小差別(小于1%)，因此可以區分相似的分子式待選物。
即使是1 ppm的質量精度也提供幾十到上百種待選分子式。
--譜圖準確度能告述您這里面哪個是正確的分子式
MassWorks軟件的sCLIPS通過將質譜的線形校正為可用數學表達的函數，地解決了這個問題，可以利用譜圖準確度值，非常地對比校正譜圖與理論譜圖，實現未知離子分子式的識別。sCLIPS充分利用了未知離子的單同位素峰與其它同位素峰很好分離的特點，不需要使用內標或外標，直接得到測量的峰形函數，通過MassWorks產生單同位素峰的線形校正函數，并將其應用到離子的整個同位素輪廓。這個線形校正譜圖，能夠可視和定量地與用相同的線形函數計算得到的理論譜圖進行比較。得到的譜圖準確度值提供了準確和強大的計量工具，能從質量得到的長長可能分子式列表中得到正確的分子式。
sCLIPS從2 ppm質量精度的FT-ICR的100種可能分子式中提供了的分子式識別
如何應用sCLIPS到測試數據
執行sCLIPS搜索非常快速、簡單
● 利用MS數據系統簡單采集數據，MassWorks直接讀取原始MS數據，或將軟件剪切和粘貼輸出得到的ASCII文件直接輸入到MassWorks軟件中。
● 點擊未知離子的單同位素，從下來菜單中選擇“sCLIPS”
● 設定搜索元素、質量誤差，然后點擊“Search”
這就是整個過程。在幾秒鐘內，完成線形校正，產生基于質量誤差的分子式列表、搜索并根據譜圖準確度排序，然后顯示全部排序后的sCLIPS報告。也能瀏覽不同譜圖準確度的待選分子式并檢查，報告也能夠通過Windows剪切板打印或輸出。
sCLIPS提供的其它優點
由于未知化合物提供了近似理想的線形校正物，sCLIPS不需要測量校正物，而實現快速、簡單進行。對于得到高質量精度，可以避免頻繁、耗時的校正需要，為您節約更多時間，提高樣品分析通量，也改善了分析結果。
譜圖準確度、與理論譜圖的對比和疊加功能，可以幫助您很容易識別干擾的存在，或不合適的儀器條件，這些都可能導致昂貴的、耗時的、窘迫的，有時設置是危險的分子式錯誤識別。sCLIPS也能在存在已知離子干擾或來自如M-H、M或M+H共存物的普通碎片干擾的情況下，通過強大的混合物搜索工具，實現準確的分子式識別，這點對于單獨的質量測定是無法實現的。
圖1. 依米丁的sCLIPS結果(正確化合物的sCLIPS校正譜圖與理論譜圖的疊加)
圖2. M+1峰的放大視圖(未校正譜圖與高譜圖準確度值的校正譜圖具有很大的譜圖差異)
表1. 來自TOF儀器，并根據譜圖準確度排列得到的依米丁(C29H41N2O4+)的搜索列表(利用C、H、N、O和S元素搜索得到的179個分子式)。表明MassWorks的sCLIPS很容易識別小到千分之幾的譜圖差異，這對于未經適當線形譜圖校正是不可能的。也應該注意到，儀器盡管沒有很好的校正，譜圖準確度在質量精度超過10 ppm時，也很容易實現正確的分子式識別。
圖3. sCLIPS校正和分子式測定的流程圖(整個過程在MassWorks軟件中一次操作自動運行)
sCLIPS樣本下載
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